高壓加速壽命試驗機又稱 PCT/HAST 試驗箱，是電子半導體行業關鍵可靠性檢測設備，通過密閉壓力容器營造高溫、高壓、高濕耦合環境，大幅加速水汽滲透，快速暴露產品潛在失效缺陷，替代漫長的自然老化驗證，廣泛用于 IC 芯片、PCB 線路板、連接器、汽車電子、磁性材料、LED 封裝等產品的耐濕密封性能檢測。

高壓加速壽命試驗機設備主要由壓力容器內膽、蒸汽加熱系統、壓力調控模塊、智能控制系統與安全防護組件構成，分為飽和 PCT 與非飽和 HAST 兩種模式，可精準控制溫度、壓力、濕度參數，部分機型支持偏壓通電測試，滿足 JESD22?A102、GB/T4937.40 等行業規范要求。內膽采用防結露結構，避免冷凝水滴落干擾試樣，多重聯鎖保護保障高壓工況運行安全，整機運行穩定，試驗重復性好。

相比傳統雙 85 濕熱試驗，該設備放大濕熱應力效應，將數月甚至數年的自然老化壓縮至幾十小時完成，可有效檢測封裝漏氣、分層脫層、金屬腐蝕、絕緣劣化等失效現象。試驗結束后可觀測試樣外觀、電性參數變化，評估材料與封裝工藝的可靠性水平。

該設備服務于企業研發、來料驗證與第三方檢測實驗室，幫助研發人員定位材料、工藝短板，優化封裝配方與結構設計，規避產品在濕熱環境下的早期失效風險，是半導體、車載電子領域品質管控不可少的試驗裝備。